Influence of Sublayers of Germanium on a Threshold of Percolation of a Current in Thin Films of Copper

Influence of Sublayers of Germanium on a Threshold of Percolation of a Current in Thin Films of Copper

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2013
Hauptverfasser:	R. I. Bihun, M. D. Buchkovska, N. S. Koltun, Z. V. Stasiuk, D. S. Leonov
Format:	Artikel
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2013
Schriftenreihe:	Metallophysics and advanced technologies
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000470889
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