Gomeniuk, Y. V. (2012). Determination of interface state density in high-k dielectric-silicon system from conductance-frequency measurements.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Gomeniuk, Yu. V. Determination of Interface State Density in High-k Dielectric-silicon System from Conductance-frequency Measurements. 2012.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Gomeniuk, Yu. V. Determination of Interface State Density in High-k Dielectric-silicon System from Conductance-frequency Measurements. 2012.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.