Influence of elastic deformation on local current characteristics of separate Ge nanoclusters on Si investigated by conducting atomic force microscopy
Збережено в:
Дата: | 2012 |
---|---|
Автор: | Ju. Rubezhanskaja |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2012
|
Назва видання: | Surface |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000516431 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Influence of electrocapillarity on the water meniscus shape in the atomic force microscopy
за авторством: Ye. A. Yelisieiev
Опубліковано: (2015) -
Influence of electrocapillarity on the water meniscus shape in the atomic force microscopy
за авторством: E. A. Eliseev
Опубліковано: (2015) -
Photoconductivity mechanism in structures with Ge-nanoclusters grown on Si(100) surface
за авторством: Ye. Ye. Melnichuk, та інші
Опубліковано: (2014) -
Photoconductivity mechanism in structures with Ge-nanoclusters grown on Si(100) surface
за авторством: Melnichuk, Ye.Ye., та інші
Опубліковано: (2014) -
Modelling of micro- and nanodomain arrays recorded in ferroelectrics-semiconductors by using atomic force microscopy
за авторством: Morozovska, A.N.
Опубліковано: (2006)