Стиль цитування APA (7-ме видання)

Amer, H. H., Elkordy, M., Zien, M., Dahshan, A., & Elshamy, R. A. (2011). Characterization of quaternary chalcogenide As-Ge-Te-Si thin films.

Чикаго стиль цитування (17-те видання)

Amer, H. H., M. Elkordy, M. Zien, A. Dahshan, та R. A. Elshamy. Characterization of Quaternary Chalcogenide As-Ge-Te-Si Thin Films. 2011.

Стиль цитування MLA (8-ме видання)

Amer, H. H., et al. Characterization of Quaternary Chalcogenide As-Ge-Te-Si Thin Films. 2011.