Стиль цитування APA (7-ме видання)

Brus, V. V., Kovalyuk, Z. D., Parfenyuk, O. A., & Vakhnyak, N. D. (2011). Comparison of optical properties of TiO2 thin films prepared by reactive magnetron sputtering and electron-beam evaporation techniques.

Чикаго стиль цитування (17-те видання)

Brus, V. V., Z. D. Kovalyuk, O. A. Parfenyuk, та N. D. Vakhnyak. Comparison of Optical Properties of TiO2 Thin Films Prepared by Reactive Magnetron Sputtering and Electron-beam Evaporation Techniques. 2011.

Стиль цитування MLA (8-ме видання)

Brus, V. V., et al. Comparison of Optical Properties of TiO2 Thin Films Prepared by Reactive Magnetron Sputtering and Electron-beam Evaporation Techniques. 2011.