Стиль цитування APA (7-ме видання)

Khodakovskij, N. I., Larkin, J., & Galstjan, G. G. (2011). Study of probe methods for fabrication of units for nanoelectronic devices and diagnostic technique using electrostatic force microscopy.

Чикаго стиль цитування (17-те видання)

Khodakovskij, N. I., Ju Larkin, та G. G. Galstjan. Study of Probe Methods for Fabrication of Units for Nanoelectronic Devices and Diagnostic Technique Using Electrostatic Force Microscopy. 2011.

Стиль цитування MLA (8-ме видання)

Khodakovskij, N. I., et al. Study of Probe Methods for Fabrication of Units for Nanoelectronic Devices and Diagnostic Technique Using Electrostatic Force Microscopy. 2011.