Фотоелектричні властивості плівок SiGe, покритих шарами аморфного та полікристалічного кремнію
Виявлено, що тонкi шари аморфного та полiкристалiчного Si (вiдповiдно a-Si та poly-Si), нанесенi на поверхню Ge0,25Si0,75, суттєво зменшують величину негативної фото-ЕРС, вiдтворюванiй у шарi Ge0,25Si0,75, нанесеному на пiдкладку кристалiчного Si. У той самий час, при достатнiй глибинi проникнення с...
Saved in:
Date: | 2019 |
---|---|
Main Authors: | , , , , , , , |
Format: | Article |
Language: | English Ukrainian |
Published: |
Publishing house "Academperiodika"
2019
|
Subjects: | |
Online Access: | https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2018573 |
Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Journal Title: | Ukrainian Journal of Physics |