Результати пошуку - "Материалы электроники" :: Harvester open publications of NAS Ukraine

41

Модифицированный фосфид галлия для лазеров и мощных светодиодов

за авторством Гаркавенко, А.С., Мокрицкий, В.А.
Опубліковано 2001

Отримати повний текст

Стаття

42

Исследование релаксационных процессов в сегнетокерамике

за авторством Тиллес, В.Ф.
Опубліковано 2001

Отримати повний текст

Стаття

43

Деградационные превращения в топологически разупорядоченных твердых телах: 1. Математические модели кинетики...

за авторством Вакив, Н.М., Балицкая, В.А., Шпотюк, О.И., Буткевич, Б.
Опубліковано 2003

Отримати повний текст

Стаття

44

Механизм регулярных формоизменений микропроволоки при воздействии токовых нагрузок

за авторством Моисеев, Л.М., Ковальчук, В.В.
Опубліковано 2003

Отримати повний текст

Стаття

45

Размерно-геометрические параметры моделей микроструктуры толстых резистивных пленок

за авторством Стерхова, А.В.
Опубліковано 2002

Отримати повний текст

Стаття

46

Использование керамики на основе твердых растворов (Ni, Co, Mn, Cu)₃O₄для толстопленочных терморезисторов...

за авторством Шпотюк, О.И., Гадзаман, И.В., Охримович, Р.В., Вакив, Н.М., Осечкин, С.И., Цмоць, В.М., Брунец, И.М.
Опубліковано 2002

Отримати повний текст

Стаття

47

Степенная связь параметров композиционного материала и его компонентов

за авторством Дмитриев, М.В.
Опубліковано 2002

Отримати повний текст

Стаття

48

Физико-технические параметры монокристаллов для светозвуко-проводов акустооптических устройств

за авторством Данилов, В.В.
Опубліковано 2002

Отримати повний текст

Стаття

49

Взрывная кристаллизация тонких пленок полупроводников при облучении y-квантами

за авторством Храмов, Е.Ф., Прохоров, Г.В., Пелихатый, Н.М., Гнап, А.К.
Опубліковано 2003

Отримати повний текст

Стаття

50

Методика определения параметров структурной и кластерной моделей толстых резистивных пленок

за авторством Стерхова, А.В., Ушаков, П.А., Жарков, П.Н.
Опубліковано 2001

Отримати повний текст

Стаття

51

Расчет частотной зависимости диэлектрических характеристик тонких пленок системы HfO₂—Nd₂O₃

за авторством Казаков, А.И., Андриянов, А.В., Миронов, В.С., Поляруш, О.В.
Опубліковано 2003

Отримати повний текст

Стаття

52

Физические свойства и зонная структура кристаллов (3HgTe)1-x(Al₂Te₃)x, легированных марганцем

за авторством Марьянчук, П.Д., Дымко, Л.Н., Романишин, Т.Р., Ковалюк, Т.Т., Брус, В.В., Солован, М.Н., Мостовой, А.И.
Опубліковано 2014

Отримати повний текст

Стаття

53

Ионизационный отжиг полупроводниковых кристаллов. Часть первая: Теоретические предпосылки

за авторством Гаркавенко, А.С., Мокрицкий, В.А., Банзак, О.В., Завадский, В.А.
Опубліковано 2014

Отримати повний текст

Стаття

54

Гибкие фольгированные диэлектрики: классификация и анализ направлений применения и совершенствования...

за авторством Воробьев, А.В., Жора, В.Д.
Опубліковано 2014

Отримати повний текст

Стаття

55

Формирование резких границ раздела в эпитаксиальных структурах p+-AlGaAs/n-GaAs методом МОС-гидридной эпитаксии...

за авторством Вакив, Н.М., Круковский, С.И., Ларкин, С.Ю., Авксентьев, А.Ю., Круковский, Р.С.
Опубліковано 2014

Отримати повний текст

Стаття

56

Немессбауэровский гамма-лазер на основе прямозонных полупроводниковых соединений

за авторством Гаркавенко, А.С.
Опубліковано 2001

Отримати повний текст

Стаття

57

Влияние пластической деформации на анизотропию электропроводности трансформаторной стали

за авторством Усов, В.В.
Опубліковано 2001

Отримати повний текст

Стаття

58

Моделирование деградации радиационно-оптических свойств халькогенидных стеклообразных полупроводников...

за авторством Вакив, Н.М.
Опубліковано 2000

Отримати повний текст

Стаття

59

Система паст "Аналог-4" расширяет возможности толстопленочной технологии

за авторством Пучкова, Н.С., Смирнов, А.Н., Лазур, А.И.
Опубліковано 2000

Отримати повний текст

Стаття

60

Использование "эффекта текстуры" для повышения прочности конструкционных материалов

за авторством Гохман, А.Р., Иванов, Ю.Н., Дроздов, М.А., Дроздова, В.В.
Опубліковано 2000

Отримати повний текст

Стаття

Уточнити результати