Особенности изготовления Cd1-xZnxTe-детектора ионизирующего излучения

von Томашик, З.Ф., Стратийчук, И.Б., Томашик, В.Н., Будзуляк, С.И., Гнатив, И.И., Комар, В.К., Дубина, Н.Г., Лоцъко, А.П., Корбутяк, Д.В., Демчина, Л.А., Вахняк, Н.Д.
Veröffentlicht 2013

Химическое осаждение из газовой фази гетеро- и наноструктур соединений III–V

von Воронин, В.А., Губа, С.К., Курило, И.В.
Veröffentlicht 2008

Автоматизированная система регистрации циклов при вибрационных испытаниях образца

von Усов, В.В., Шкатуляк, Н.М., Титенков, А.Н., Цибанев, Н.Н.
Veröffentlicht 2008

Современная инфракрасная термография в контроле и диагностике оборудования

von Стевич, З., Райчич-Вуясинович, М., Антич, Д.В., Дамнянович, З.
Veröffentlicht 2006

Высокочувствительная установка для оценки изменения показателя преломления водных растворов

von Подкамень, Л.И., Гавриляк, М.С.
Veröffentlicht 2011

Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования...

von Щербакова, Г.Ю., Дилевский, А.А., Крылов, В.Н., Логвинов, О.В., Плачинда, О.Е.
Veröffentlicht 2011

Автоматизированный спектрометр глубоких уровней для исследования полупроводниковых структур

von Бойко, Ю.В., Кузнецов, Г.В., Савицкий, С.М., Третяк, О.В.
Veröffentlicht 2007

Информационные параметры для реализации адаптивной зарядки вторичных химических источников тока...

von Житник, Н.Е., Миропольский, Ю.Л., Плаксин, С.В., Погорелая, Л.М., Соколовский, И.И.
Veröffentlicht 2008

Алгоритм выбора интервала пересчета параметров объектов контроля и управления в АСУ ТП

von Тыныныка, А.Н
Veröffentlicht 2016

Лазерная абляция и фотостимулированная пассивация поверхности кристаллов Cd1–хZnхTe

von Загоруйко, Ю.А., Коваленко, Н.О., Христьян, В.А., Федоренко, О.А., Герасименко, А.С., Добротворская, М.В., Матейченко, П.В.
Veröffentlicht 2011

Исследование линейной корреляционной связи в парных выборках малого объема

von Попукайло, В.С.
Veröffentlicht 2016

Особенности плазмохимического травления торцов кремниевых пластин для фотоэлектрических преобразователей...

von Федорович, О.А., Кругленко, М.П., Полозов, Б.П.
Veröffentlicht 2009

Массоперенос при жидкофазной эпитаксии двухслойных систем

von Дранчук, С.Н., Завадский, В.А., Мокрицкий, В.А.
Veröffentlicht 2012

Прибор и методы измерения параметров и степени однородности пленочных структур

von Макара, В.А., Одарич, В.А., Кепич, Т.Ю., Преображенская, Т.Д., Руденко, О.В.
Veröffentlicht 2009

Особенности трансформации примесно-дефектных комплексов в CdTe:Cl под воздействием СВЧ-облучения

von Будзуляк, С.И., Корбутяк, Д.В., Лоцько, А.П., Вахняк, Н.Д., Калитчук, С.М., Демчина, Л.А., Конакова, Р.В., Шинкаренко, В.В., Мельничук, А.В.
Veröffentlicht 2014

Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев

von Сорокин, В.М., Зелинский, Р.Я., Рыбалочка, А.В., Олийник, А.С.
Veröffentlicht 2008

Обобщенный теоретический подход к анализу газофазных процессов эпитаксии

von Воронин, В.А., Губа, С.К., Сиверс, В.Н.
Veröffentlicht 2006

Бесконтактный метод определения эффективности термоэлектрических материалов

von Ащеулов, А.А.
Veröffentlicht 2009

Оборудование для формирования омических контактов полупроводниковых приборов на основе соединений A₃B₅...

von Александров, С.Б., Крупальник, К.М., Корнилов, Н.А., Кондратьева, Т.А.
Veröffentlicht 2011

Широкоапертурный высокочастотный источник ионов низкой энергии с электронной компенсацией

von Дудин, С.В., Рафальский, Д.В., Зыков, А.В.
Veröffentlicht 2010