Сравнительный анализ радиографических технических пленок для промышленного неразрушающего контроля, исследования и регистрации ионизирующих излучений...

von Терехов, П.В., Калентьев, В.К., Муратов, Д.Ш.
Veröffentlicht 2003

Повышение чувствительности регистрирующих материалов к жесткому излучению и снижение времени их экспозиции в рентгенодефектоскопическом контроле...

von Михайлов, О.В., Терехов, П.В., Кондаков, А.В., Муратов, Д.Ш., Хабибуллин, А.С.
Veröffentlicht 2004