Интегральная многопараметрическая дифрактометрия наносистем на основе эффектов многократности диффузного рассеяния...

von Шпак, А.П., Ковальчук, М.В., Молодкин, В.Б., Носик, В.Л., Дмитриев, С.В., Лень, Е.Г., Олиховский, С.И., Низкова, А.И., Молодкин, В.В., Первак, Е.В., Катасонов, А.А., Ниничук, Л.И., Мельник, А.В.
Veröffentlicht 2009