Microfluctuations of oxygen impurity concentration as a reason of accelerated oxygen diffusion in silicon

by Neimash, V.B., Puzenko, O.O., Kraitchinskii, A.M., Krasko, M.M., Putselyk, S., Claeys, C., Simoen, E.
Published 2000

Вплив олова на структурнi перетворення тонкоплiвкової субоксидної матрицi кремнiю

by Voitovych, V. V., Rudenko, R. M., Yuchymchuk, V. O., Voitovych, M. V., Krasko, M. M., Kolosiuk, A. G., Povarchuk, V. Yu., Khachevich, I. M., Rudenko, M. P.
Published 2019