Microfluctuations of oxygen impurity concentration as a reason of accelerated oxygen diffusion in silicon

von Neimash, V.B., Puzenko, O.O., Kraitchinskii, A.M., Krasko, M.M., Putselyk, S., Claeys, C., Simoen, E.
Veröffentlicht 2000

Вплив олова на структурнi перетворення тонкоплiвкової субоксидної матрицi кремнiю

von Voitovych, V. V., Rudenko, R. M., Yuchymchuk, V. O., Voitovych, M. V., Krasko, M. M., Kolosiuk, A. G., Povarchuk, V. Yu., Khachevich, I. M., Rudenko, M. P.
Veröffentlicht 2019