Treffer 1 - 2 von 2 für Suche 'Kruger, D.', Suchdauer: 0,01s Treffer weiter einschränken
  1. 1
    AES and XPS characterization of TiN layers formed and modified by ion implantation
    von Melnik, V., Popov, V., Kruger, D., Oberemok, O.
    Veröffentlicht 1999
    Volltext
    Artikel
    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:
  2. 2
    Ultrasound effect on radiation damages in boron implanted silicon
    Volltext
    Artikel
    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:
Suchwerkzeuge: RSS-Feed abonnieren – Diese Suche als E-Mail versenden