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    Radiation/annealing-induced structural changes in GexAs₄₀-xS₆₀ glasses as revealed from high-energy synchrotron X-ray diffraction measurements
    von Kavetskyy, T.S., Tsmots, V.M., Stepanov, A.L.
    Veröffentlicht 2012
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    Low-temperature positron annihilation study of B⁺-ion implanted PMMA
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