The use of porous SiOx films in sensors based on surface plasmon resonance

von Ye. Vakariuk, Yu. S. Hromovoi, V. A. Danko, H. V. Dorozhynskyi, S. A. Zyno, I. Z. Indutnyi, A. V. Samoilov, Yu. V. Ushenin, R. V. Khrystosenko, Ye. Shepeliavyi
Veröffentlicht 2013