APA-Zitierstil (7. Ausg.)

Goloborodko, N., Grygoruk, V., Kurashov, V., Podanchuk, D., Goloborodko, A., & Kotov, M. (2010). Determination of surface defects by using the wavefront scanner. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.

Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)

Goloborodko, N.S, V.I Grygoruk, V.N Kurashov, D.V Podanchuk, A.A Goloborodko, und M.M Kotov. Determination of Surface Defects by Using the Wavefront Scanner. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2010.

MLA-Zitierstil (8. Ausg.)

Goloborodko, N.S, et al. Determination of Surface Defects by Using the Wavefront Scanner. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2010.