Transformations of microdefect structure in silicon crystals under the influence of weak magnetic field
Quantitative characterization of complex microdefect structures in annealed silicon crystals (1150 °С, 40 h) and their transformations after exposing for one day in a weak magnetic field (1 T) has been performed by analyzing the rocking curves, which have been measured by a high-resolution double...
Збережено в:
Дата: | 2011 |
---|---|
Автори: | Vladimirova, T.P., Kyslovs’kyy, Ye.M., Molodkin, V.B., Olikhovskii, S.I., Koplak, O.V., Kochelab, E.V. |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2011
|
Назва видання: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/117799 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Transformations of microdefect structure in silicon crystals under the influence of weak magnetic field / T. P. Vladimirova, Ye. M. Kyslovs`kyy, V. B. Molodkin, S. I. Olikhovskii,O. V. Koplak, E. V. Kochelab // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2011. — Т. 14, № 4. — С. 470-477. — Бібліогр.: 27 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
-
Transformations of microdefect structure in silicon crystals under the influence of weak magnetic field
за авторством: T. P. Vladimirova, та інші
Опубліковано: (2011) -
Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2010) -
Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon
за авторством: V. B. Molodkin, та інші
Опубліковано: (2010) -
Dynamical Theory of Triple-Crystal X-ray Diffractometry and Characterization of Microdefects and Strains in Imperfect Single Crystals
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2016) -
Classification of microdefects in semiconducting silicon
за авторством: Talanin, V.I., та інші
Опубліковано: (2003)