Change of parameters of semiinsulated undoped GaAs nonstoichiometric crystals under annealing
The time dependences of changes of the electrophysical, mechanical, and light emitting characteristics of semiinsulated undoped GaAs single crystals on the dissolving annealing (Т = 1050 ºС) with the consequent quenching are obtained. The role of vacancies, interstitial point defects, and disloca...
Збережено в:
Дата: | 2007 |
---|---|
Автори: | Shutov, S.V., Shtan’ko, A.D., Kurak, V.V., Litvinova, M.B. |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2007
|
Назва видання: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/118345 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Change of parameters of semiinsulated undoped GaAs nonstoichiometric crystals under annealing / S.V. Shutov, A.D. Shtan'ko, M.B. Litvinova, V.V. Kurak // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2007. — Т. 10, № 4. — С. 26-30. — Бібліогр.: 13 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
-
Decrease of exciton radiation intensity in compensated gallium arsenide single crystals under influence of low electric field
за авторством: Shtan'ko, A.D., та інші
Опубліковано: (2010) -
Radiative recombination through EL2 centers in selenium and cadmium single crystals doped gallium arsenide
за авторством: Litvinova, M.B., та інші
Опубліковано: (2006) -
Photoluminescence of undoped and Yb-doped GaS single crystals irradiated with γ-quanta
за авторством: Madatov, R.S., та інші
Опубліковано: (2021) -
Influence of ion implantation and annealing on composition and structure of GaAs surface
за авторством: Normuradov, M.T., та інші
Опубліковано: (2002) -
Temperature and laser annealing of nonstoichiometric SiOx films
за авторством: O. O. Havryliuk, та інші
Опубліковано: (2013)