Локализация неисправных подсхем в линейных и нелинейных схемах электронных устройств
В работе показана возможность практического применения метода обучающих и проверочных характеристик в задачах локализации неисправных подсхем ЭУ как в случае линейного, так и нелинейного исполнения последних....
Gespeichert in:
| Datum: | 2017 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України
2017
|
| Schriftenreihe: | Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Технічні науки |
| Online Zugang: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/133831 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Локализация неисправных подсхем в линейных и нелинейных схемах электронных устройств / А.Ф. Верлань, С.А. Положаенко, А.А. Дячук // Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Технічні науки: зб. наук. пр. — Кам’янець-Подільський: Кам'янець-Подільськ. нац. ун-т, 2017. — Вип. 16. — С. 22-29. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. |