Локализация неисправных подсхем в линейных и нелинейных схемах электронных устройств
В работе показана возможность практического применения метода обучающих и проверочных характеристик в задачах локализации неисправных подсхем ЭУ как в случае линейного, так и нелинейного исполнения последних....
Saved in:
Date: | 2017 |
---|---|
Main Authors: | , , |
Format: | Article |
Language: | Russian |
Published: |
Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України
2017
|
Series: | Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Технічні науки |
Online Access: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/133831 |
Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Cite this: | Локализация неисправных подсхем в линейных и нелинейных схемах электронных устройств / А.Ф. Верлань, С.А. Положаенко, А.А. Дячук // Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Технічні науки: зб. наук. пр. — Кам’янець-Подільський: Кам'янець-Подільськ. нац. ун-т, 2017. — Вип. 16. — С. 22-29. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineBe the first to leave a comment!