Локализация неисправных подсхем в линейных и нелинейных схемах электронных устройств

В работе показана возможность практического применения метода обучающих и проверочных характеристик в задачах локализации неисправных подсхем ЭУ как в случае линейного, так и нелинейного исполнения последних....

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Date:2017
Main Authors: Верлань, А.Ф., Положаенко, С.А., Дячук, А.А.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України 2017
Series:Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Технічні науки
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/133831
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Локализация неисправных подсхем в линейных и нелинейных схемах электронных устройств / А.Ф. Верлань, С.А. Положаенко, А.А. Дячук // Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Технічні науки: зб. наук. пр. — Кам’янець-Подільський: Кам'янець-Подільськ. нац. ун-т, 2017. — Вип. 16. — С. 22-29. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine