Влияние отжига на эмиссию вторичных частиц с поверхности циркониевого сплава
Эмиссия вторичных ионов и возбужденных частиц при ионной бомбардировке исследована методами вторичной ионной масс-спектрометрии (ВИМС) и ионно-фотонной спектрометрии (ИФС). Установлено, что зависимость выхода вторичных частиц от дозы облучения (вплоть до 3,5·10¹⁷ ион·см⁻²) имеет различный вид для ча...
Збережено в:
| Дата: | 2017 |
|---|---|
| Автори: | , , , , , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2017
|
| Назва видання: | Вопросы атомной науки и техники |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/136146 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Влияние отжига на эмиссию вторичных частиц с поверхности циркониевого сплава / И.А. Афанасьева, В.В. Бобков, В.В. Грицына, К.В. Ковтун, В.Т. Коппе, В.А. Литвинов, И.И. Оксенюк, С.В. Ховрич, Д.И. Шевченко // Вопросы атомной науки и техники. — 2017. — № 4. — С. 39-46. — Бібліогр.: 16 назв. — рос. |