О миграциях активированных частиц в кристаллических решетках элементов контактной композиции

В данной работе рассматривается активированное состояние системы в конфигурационном фазовом пространстве. Анализ результатов данной работы позволяет создать методику расчета для объяснения причин возможного перемещения опорных точек дуги по рабочей поверхности контактов....

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2006
1. Verfasser: Павленко, Т.П.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Інститут технічних проблем магнетизму НАН України 2006
Schriftenreihe:Електротехніка і електромеханіка
Schlagworte:
Online Zugang:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/142772
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:О миграциях активированных частиц в кристаллических решетках элементов контактной композиции / Т.П. Павленко // Електротехніка і електромеханіка. — 2006. — № 6. — С. 22-24. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine