Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности

Получены экспериментальные зависимости критической температуры сверхпроводящего перехода от толщины пленок ниобия, VN, TaN и YBa₂Cu₃O₇₋x. Показано, что в сверхпроводниках с малой длиной когерентности определенную роль в понижении критической температуры наряду с эффектом близости могут играть флукту...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:1998
1. Verfasser: Прохоров, В.Г.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 1998
Schriftenreihe:Физика низких температур
Schlagworte:
Online Zugang:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/176569
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности / В.Г. Прохоров // Физика низких температур. — 1998. — Т. 24, № 6. — С. 544-548. — Бібліогр.: 23 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine