Методы анализа высокочистых материалов с предварительным концентрированием примесей
Представлены сравнительные данные аналитических возможностей масс-спектрометрических и атомно-эмиссионных спектральных методов с различными плазменными источниками возбуждения и ионизации (ИСП-МС, ИСП-АЭС, ДПТ-АЭС и ДДП-АЭС) для многоэлементного анализа высокочастотных веществ с предварительным конц...
Gespeichert in:
| Datum: | 2005 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Інститут загальної та неорганічної хімії ім. В.І. Вернадського НАН України
2005
|
| Schriftenreihe: | Украинский химический журнал |
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/184029 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Методы анализа высокочистых материалов с предварительным концентрированием примесей / А.И. Сапрыкин, И.Р. Шелпакова // Украинский химический журнал. — 2005. — Т. 71, № 10. — С. 104-112. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Zusammenfassung: | Представлены сравнительные данные аналитических возможностей масс-спектрометрических и атомно-эмиссионных спектральных методов с различными плазменными источниками возбуждения и ионизации (ИСП-МС, ИСП-АЭС, ДПТ-АЭС и ДДП-АЭС) для многоэлементного анализа высокочастотных веществ с предварительным концентрированием микропримесей. |
|---|