Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям
В данной статье представлена схема алгоритма анализа наноповерхности по изображениям атомно-силовой микроскопии. В основе анализа лежит коррекция неравномерного контраста и выделение объектов с округлой формой. Данный алгоритм позволил определить не только классические характеристики описания на...
Saved in:
| Date: | 2011 |
|---|---|
| Main Authors: | , , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України
2011
|
| Series: | Штучний інтелект |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/59897 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям / А.М. Недзьведь, С.В. Абламейко, О.В. Недзьведь // Штучний інтелект. — 2011. — № 3. — С. 246-253. — Бібліогр.: 8 назв. — рос. |