Недзьведь, А., Абламейко, С., & Недзьведь, О. (2011). Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям. Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Недзьведь, А.М, С.В Абламейко, und О.В Недзьведь. Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям. Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України, 2011.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Недзьведь, А.М, et al. Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям. Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України, 2011.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.