Недзьведь, А., Абламейко, С., & Недзьведь, О. (2011). Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям. Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України.
Chicago Style (17th ed.) CitationНедзьведь, А.М, С.В Абламейко, and О.В Недзьведь. Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям. Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України, 2011.
MLA (8th ed.) CitationНедзьведь, А.М, et al. Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям. Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України, 2011.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.