Недзьведь, А., Абламейко, С., & Недзьведь, О. (2011). Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям. Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Недзьведь, А.М, С.В Абламейко, та О.В Недзьведь. Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям. Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України, 2011.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Недзьведь, А.М, et al. Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям. Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України, 2011.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.