Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям
В данной статье представлена схема алгоритма анализа наноповерхности по изображениям атомно-силовой микроскопии. В основе анализа лежит коррекция неравномерного контраста и выделение объектов с округлой формой. Данный алгоритм позволил определить не только классические характеристики описания на...
Gespeichert in:
| Datum: | 2011 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України
2011
|
| Schriftenreihe: | Штучний інтелект |
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/59897 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям / А.М. Недзьведь, С.В. Абламейко, О.В. Недзьведь // Штучний інтелект. — 2011. — № 3. — С. 246-253. — Бібліогр.: 8 назв. — рос. |