О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники
Получено выражение, позволяющее вычислять долевые участия составных процессов деградации для любого форсированного по температуре режима испытаний, которое положено в основу процедуры преобразования диаграммы Парето. Предложена уточненная оценка коэффициента вариации обобщенного процесса деградации....
Gespeichert in:
| Datum: | 2003 |
|---|---|
| 1. Verfasser: | |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України
2003
|
| Online Zugang: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/6388 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники / А.В. Федухин // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2003. — № 2. — С. 113-118. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |