Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП
Розглянуті параметри сучасних мікроелектронних швидкодіючих АЦП, що підлягають тестуванню та оцінюванню. Показано, що в умовах виробництва доцільно використовувати складне і коштовне обладнання для тестування параметрів швидкодіючих АЦП, а при проектуванні нових пристроїв на основі цих АЦП доречно в...
Gespeichert in:
| Datum: | 2007 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainian |
| Veröffentlicht: |
Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України
2007
|
| Online Zugang: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/6487 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП / В.О. Романов, І.Б. Галелюка // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2007. — № 6. — С. 52-60. — Бібліогр.: 3 назв. — укр. |