Обработка данных при автоматизации дефектоскопического контроля материалов электронной техники
Предложена методика обработки данных при автоматизированном дефектоскопическом контроле материалов и поверхностей, алгоритмы распознавания текстурно-однородных областей и распознавания объекта на фоне текстуры. При распознавании текстурно-однородных областей проводится сегментация изображения по тек...
Gespeichert in:
| Datum: | 2000 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2000
|
| Schriftenreihe: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70963 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Обработка данных при автоматизации дефектоскопического контроля материалов электронной техники / В.Н. Крылов, С.Г. Антощук, Г.Ю. Щербакова // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2000. — № 5-6. — С. 45-47. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |