Атомно-силова мікроскопія поверхні кристалів і плівок вісмуту
Розвиток методів скануючої зондової мікроскопії суттєво розширив можливості дослідження структури поверхні кристалів, плівок, мезоструктур і наноструктур, модифікації структури поверхонь. В роботі використаний скануючий зондовий мікроскоп Solver Російської фірми НТ-МДТ для дослідження структури пове...
Saved in:
| Date: | 2009 |
|---|---|
| Main Authors: | , , |
| Format: | Article |
| Language: | Ukrainian |
| Published: |
Інститут термоелектрики НАН України та МОН України
2009
|
| Series: | Термоелектрика |
| Subjects: | |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Атомно-силова мікроскопія поверхні кристалів і плівок вісмуту / В.М. Грабов., Е.В. Демидов, В.А. Комаров // Термоелектрика. — 2009. — № 1. — С. 41-47. — Бібліогр.: 10 назв. — укр. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Summary: | Розвиток методів скануючої зондової мікроскопії суттєво розширив можливості дослідження структури поверхні кристалів, плівок, мезоструктур і наноструктур, модифікації структури поверхонь. В роботі використаний скануючий зондовий мікроскоп Solver Російської фірми НТ-МДТ для дослідження структури поверхонь монокристалів і плівок вісмуту та сплавів вісмут-сурма. Розроблені нові методи дослідження структури поверхонь, що поєднують попередню хімічну чи електрохімічну обробку із подальшою атомно-силовою мікроскопією. Найбільш простим і ефективним визнаний метод декорування дефектів та границь зерен шляхом природного оксидування в результаті витримки поверхні на повітрі протягом певного часу. Отримання детальної інформації про структуру плівок із використанням розроблених методів забезпечило можливість коректування режимів виготовлення плівок методом термічного напилення у вакуумі та отримання плівок зі структурою, близькою до монокристалічної. Розроблений також новий метод електрохімічної модифікації поверхні в процесі зондового сканування кристалів та плівок, що являє інтерес для модифікації наноструктур. |
|---|