Microstructure of intergranular boundaries in polycrystalline silicon and its effect on the transport of charge carriers

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Bibliographische Detailangaben
Datum:2010
Hauptverfasser: B. M. Abdurakhmanov, L. O. Olimov, F. Abdurazakov
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: 2010
Schriftenreihe:Physical surface engineering
Online Zugang:http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000877896
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