Model of smoothing roughness on GaAs wafer surface by using nonabrasive chemical-and-mechanical polishing

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Bibliographische Detailangaben
Datum:2017
Hauptverfasser: A. V. Fomin, G. A. Pashchenko, Yu. Kravetskyi, I. G. Lutsyshyn
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: 2017
Schriftenreihe:Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Online Zugang:http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000714494
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