Model of smoothing roughness on GaAs wafer surface by using nonabrasive chemical-and-mechanical polishing
Gespeichert in:
Datum: | 2017 |
---|---|
Hauptverfasser: | A. V. Fomin, G. A. Pashchenko, Yu. Kravetskyi, I. G. Lutsyshyn |
Format: | Artikel |
Sprache: | English |
Veröffentlicht: |
2017
|
Schriftenreihe: | Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics |
Online Zugang: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000714494 |
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Institution
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