Influence of X-ray irradiation on the optical absorption edge and refractive index dispersion in Cu6PS5I-based thin films deposited using magnetron sputtering
Gespeichert in:
Datum: | 2017 |
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Hauptverfasser: | , , , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | English |
Veröffentlicht: |
2017
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Schriftenreihe: | Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics |
Online Zugang: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000741633 |
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Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |