Dopant depth profile modification during mass Spectrometric analysis of multilayer nanostructures
Збережено в:
Дата: | 2015 |
---|---|
Автори: | A. A. Efremov, V. G. Litovchenko, V. P. Melnik, O. S. Oberemok, V. G. Popov, B. M. Romanyuk |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2015
|
Назва видання: | Ukrainian journal of physics |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000701174 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Dopant depth profile modification during mass Spectrometric analysis of multilayer nanostructures
за авторством: O. O. Yefremov, та інші
Опубліковано: (2015) -
Mass-spectrometric investigations of gas evolution
за авторством: Asnis, Yu.A., та інші
Опубліковано: (2006) -
Accelerator mass-spectrometr SB RAS
за авторством: Rastigeev, S.A., та інші
Опубліковано: (2013) -
Mass spectrometric analysis of oligoribonucleotides of total yeast RNA
за авторством: Yu. Tkachuk, та інші
Опубліковано: (2021) -
Mechanism of functionalization of the surfaces of detonation nanodiamonds: mass-spectrometric investigation
за авторством: A. O. Pozdnjakov, та інші
Опубліковано: (2018)