Metrological aspects of studying the specific contact resistivity of ohmic contacts by using the four-contact method

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Bibliographische Detailangaben
Datum:2014
1. Verfasser: V. N. Sheremet
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: 2014
Schriftenreihe:Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Online Zugang:http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000353052
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