Recombination characteristics of single-crystalline silicon wafers with a damaged near-surface layer

Recombination characteristics of single-crystalline silicon wafers with a damaged near-surface layer

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2013
Hauptverfasser:	A. V. Sachenko, V. P. Kostylev, V. G. Litovchenko, V. G. Popov, B. M. Romanyuk, V. V. Chernenko, V. M. Naseka, T. V. Slusar, S. I. Kyrylova, F. F. Komarov
Format:	Artikel
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2013
Schriftenreihe:	Ukrainian journal of physics
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000688686
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Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

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