Influence of elastic deformation on local current characteristics of separate Ge nanoclusters on Si investigated by conducting atomic force microscopy
Gespeichert in:
| Datum: | 2012 |
|---|---|
| 1. Verfasser: | |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
2012
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| Schriftenreihe: | Surface |
| Online Zugang: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000516431 |
| Tags: |
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| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |