Detection of interaction between the nanoparticles on surface using ellipsometry
Збережено в:
Дата: | 2011 |
---|---|
Автори: | T. A. Mishakova, E. G. Borshchagovskij, A. Dejneka, V. Z. Lozovskij, L. Jastrabik |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2011
|
Назва видання: | Nanosystems, nanomaterials, nanotechnologies |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000473545 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Origin of surface layer on common substrates for functional material films probed by ellipsometry
за авторством: Belyaeva, A.I., та інші
Опубліковано: (2003) -
Influence of the surface roughness and oxide surface layer onto Si optical constants measured by the ellipsometry technique
за авторством: T. S. Rozouvan, та інші
Опубліковано: (2015) -
Influence of the surface roughness and oxide surface layer onto Si optical constants measured by the ellipsometry technique
за авторством: Rozouvan, T.S., та інші
Опубліковано: (2015) -
Ellipsometry of hybrid noble metal-dielectric nanostructures
за авторством: A. L. Yampolskiy, та інші
Опубліковано: (2018) -
Ellipsometry and optical spectroscopy of low-dimensional family TMDs
за авторством: V. G. Kravets, та інші
Опубліковано: (2017)