Дослiдження методами ІЧ-спектроскопiї тонких плiвок оксиду цинку, вирощених методом АПО
Using the IR reflection method and the modified method of disturbed total internal reflection (DTIR), thin undoped conducting ZnO films grown with the use of the atomic layer deposition method have been studied theoretically and experimentally for the first time in a spectral interval of 400–1400 cm...
Gespeichert in:
| Datum: | 2019 |
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| Hauptverfasser: | , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English Ukrainian |
| Veröffentlicht: |
Publishing house "Academperiodika"
2019
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| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019006 |
| Tags: |
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| Назва журналу: | Ukrainian Journal of Physics |