Використання спектроскопії та комп'ютерного моделю-вання для вивчення поверхонь, модифікованих іонною імплантацією

Using X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) and energy dispersion spectrometry, the phase and elemental compositions of the nanoscale surface layer of implants are studied. The method of determination of the optimal mode of nanoscale modification of the surfaces of metals and alloys by means of the...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Date:2021
Main Authors: Nikolaieva, D.Yu., Honcharov, V.V., Ivashin, D.Yu., Zazhigalov, V.O.
Format: Article
Language:English
Published: Publishing house "Academperiodika" 2021
Subjects:
Online Access:https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2020002
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Ukrainian Journal of Physics

Institution

Ukrainian Journal of Physics