Enhancing parameters of silicon varactors using laser gettering

von Vikulin, I.M., Litvinenko, V.N., Shutov, S.V., Maronchuk, A.I., Demenskiy, A.N., Glukhova, V.I.
Veröffentlicht 2018

Технология и оборудование для обработки алмазных материалов современной электроники

von Митягин, А.Ю., Алтухов, А.А., Митягина, А.Б.
Veröffentlicht 2009

Электроосаждение конформных электродов для получения туннельного перехода с вакуумным нанозазором...

von Джангидзе, Л.Б., Тавхелидзе, А.Н., Благидзе, Ю.М., Талиашвили, З.И.
Veröffentlicht 2009

Бесконтактный метод определения эффективности термоэлектрических материалов

von Ащеулов, А.А.
Veröffentlicht 2009

Формирование МОП-транзисторов с изоляцией активных элементов окисленным пористым кремнием

von Новосядлый, С.П., Вивчарук, В.М.
Veröffentlicht 2009

Прибор и методы измерения параметров и степени однородности пленочных структур

von Макара, В.А., Одарич, В.А., Кепич, Т.Ю., Преображенская, Т.Д., Руденко, О.В.
Veröffentlicht 2009

Метод оценки качества тонкопленочной платы

von Спирин, В.Г.
Veröffentlicht 2012

Технология создания легированных бором слоев на алмазе

von Зяблюк, К.Н., Митягин, А.Ю., Талипов, Н.Х., Чучева, Г.В., Духновский, М.П., Хмельницкий, Р.А.
Veröffentlicht 2012

Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром...

von Турцевич, А.С., Рубцевич, И.И., Соловьев, Я.А., Васьков, О.С., Кононенко, В.К., Нисс, В.С., Керенце, А.Ф.
Veröffentlicht 2012

Массоперенос при жидкофазной эпитаксии двухслойных систем

von Дранчук, С.Н., Завадский, В.А., Мокрицкий, В.А.
Veröffentlicht 2012

Получение тонких пленок Si₃N₄ при пониженном давлении на пластинах диаметром до 200 мм

von Наливайко, О.Ю., Турцевич, А.С.
Veröffentlicht 2012

Технология изготовления контактов к карбиду кремния

von Кудрик, Я.Я., Бигу, Р.И., Кудрик, Р.Я.
Veröffentlicht 2013

Технология изготовления гибких терморезисторов на полиимидной основе

von Динев, Д.А., Жора, В.Д., Григорьева, Н.Н., Грунянская, В.П.
Veröffentlicht 2013

Особенности изготовления Cd1-xZnxTe-детектора ионизирующего излучения

von Томашик, З.Ф., Стратийчук, И.Б., Томашик, В.Н., Будзуляк, С.И., Гнатив, И.И., Комар, В.К., Дубина, Н.Г., Лоцъко, А.П., Корбутяк, Д.В., Демчина, Л.А., Вахняк, Н.Д.
Veröffentlicht 2013

Высокочастотный реактор с асимметричными электродами для плазмохимического травления полупроводников...

von Дудин, С.В., Лисовский, В.А., Дахов, А.Н., Плетнёв, В.М.
Veröffentlicht 2011

Оборудование для формирования омических контактов полупроводниковых приборов на основе соединений A₃B₅...

von Александров, С.Б., Крупальник, К.М., Корнилов, Н.А., Кондратьева, Т.А.
Veröffentlicht 2011

Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования...

von Щербакова, Г.Ю., Дилевский, А.А., Крылов, В.Н., Логвинов, О.В., Плачинда, О.Е.
Veröffentlicht 2011

Формирование полированной поверхности халькогенидов Bi и Sb в травильных композициях K₂Cr₂O₇–HBr

von Павлович, И.И., Томашик, З.Ф., Томашик, В.Н., Стратийчук, И.Б.
Veröffentlicht 2011

Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы...

von Попов, В.М., Клименко, А.С., Поканевич, А.П., Самотовка, В.Л.
Veröffentlicht 2011

Метод защиты поверхности расплавленного припоя от окисления

von Курмашев, Ш.Д., Лавренова, Т.И., Бугаёва, Т.Н.
Veröffentlicht 2010