Microstructure of intergranular boundaries in polycrystalline silicon and its effect on the transport of charge carriers

Microstructure of intergranular boundaries in polycrystalline silicon and its effect on the transport of charge carriers

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2010
Hauptverfasser:	B. M. Abdurakhmanov, L. O. Olimov, F. Abdurazakov
Format:	Artikel
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2010
Schriftenreihe:	Physical surface engineering
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000877896
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