New evidence of the hopping nature of the excess tunnel current in heavily doped silicon p-n diodes at cryogenic temperatures

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Bibliographische Detailangaben
Datum:2017
Hauptverfasser: V. L. Borblik, Yu. M. Shwarts, M. M. Shwarts, A. B. Aleinikov
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: 2017
Schriftenreihe:Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Online Zugang:http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000741624
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