Ähnliche Schlagwörter innerhalb Ihrer Suche.
Ähnliche Schlagwörter innerhalb Ihrer Suche.
mass spectrometry
2
мас-спектрометрiя
-
1
X-ray diffraction
1
defects
1
depth profile
1
gettering
1
iron
1
iонне розпилення
1
lifetime
1
multilayer structure
1
silicon
1
simulation
1
sputtering
1
багатошаровi структури
1
гетерування
1
дефекти
1
залiзо
1
кремнiй
1
моделювання
1
профiлi розподiлу
1
рентгенiвська дифрактометрiя
1
час життя
1
-
1von Gamov, D. V., Gudymenko, O. I., Kladko, V. P., Litovchenko, V. G., Melnik, V. P., Oberemok, O. S., Popov, V. G., Polishchuk, Yu. O., Romaniuk, B. M., Chernenko, V. V., Nasekа, V. M.Volltext
Veröffentlicht 2018
Artikel -
2