Borophosphosilicate glass component analysis using secondary neutral mass spectrometry

von Oberemok, O., Lytvyn, P.
Veröffentlicht 2002

AES and XPS characterization of TiN layers formed and modified by ion implantation

von Melnik, V., Popov, V., Kruger, D., Oberemok, O.
Veröffentlicht 1999

Ultrasound effect on radiation damages in boron implanted silicon

von Romanjuk, B., Krüger, D., Melnik, V., Popov, V., Olikh, Ya., Soroka, V., Oberemok, O.
Veröffentlicht 2000

Механiзми модифiкацiї профiлiв розподiлу домiшок при мас-спектрометричному аналiзi багатошарових наноструктур...

von Efremov, A. A., Litovchenko, V. G., Melnik, V. P., Oberemok, O. S., Popov, V. G., Romanyuk, B. M.
Veröffentlicht 2019

Influence of deposition rate and substrate temperature on structure and optical features of NiO thin film

von Oberemok, O.S., Sabov, T.M., Lisovskyy, I.P., Khacevych, I.M., Gudymenko, O.Yo., Nikirin, V.A., Voitovych, M.V.
Veröffentlicht 2016

Formation of silicon nanoclusters in buried ultra-thin oxide layers

von Oberemok, O.S., Litovchenko, V.G., Gamov, D.V., Popov, V.G., Melnik, V.P., Gudymenko, O.Yo., Nikirin, V.A., Khatsevich, І.M.
Veröffentlicht 2011

Light-induced mass transport in amorphous chalcogenides/gold nanoparticles composites

von Trunov, M.L., Lytvyn, P.M., Nagy, P.M., Oberemok, O.S., Durkot, M.O., Tarnaii, A.A., Prokopenko, I.V., Rubish, V.M.
Veröffentlicht 2013

Дослiдження рекомбiнацiйних характеристик Cz-кремнiю, iмплантованого iонами залiза

von Gamov, D. V., Gudymenko, O. I., Kladko, V. P., Litovchenko, V. G., Melnik, V. P., Oberemok, O. S., Popov, V. G., Polishchuk, Yu. O., Romaniuk, B. M., Chernenko, V. V., Nasekа, V. M.
Veröffentlicht 2018